半导体测试设备领导者爱德万测试发表全新记忆体测试系统T5833，新系统同时支援DRAM与NAND快闪记忆体元件的Wafer Sort及Final Test，可满足低成本大量测试需求。T5833开始出货。

随着行动电子产品销售量攀升，主要搭载于智慧型手机及平板电脑的DRAM、NAND快闪记忆体与多晶片封装记忆体 (MCP) 正快速朝向提升速度与容量发展，这个趋势也同样显见于网路和云端伺服器市场。然而，记忆体元件种类繁多，测试成本是一大负担，因此晶片制造商亟需一套具备先进功能、高效能，并兼顾低测试成本的解决方案。爱德万测试全新多功能T5833记忆体测试系统，为所有记忆体元件 (从LPDDR3-DRAM、高速NAND快闪记忆体，到新一代非挥发性记忆体IC全部涵盖) 提供Wafer Sort 与Final Test功能，可充分满足上述需求。


T5833具备大量并行同测能力，Wafer Sort最高达2,048个元件，Final Test达512个元件，大大缩减了测试时间，明显提升产能，因此可达到降低测试成本之效益。除了支援known good die (KGD)测试最高达2.4Gbps之外，T5833也同时藉由弹性化的test site CPU架构，以多CPU设计，使测试流程获得最佳化控制。



T5833系统提供领先业界的高速失效位置储存分析功能与失效分析功能 (又称记忆体备援功能)，是晶圆测试不可或缺的测试功能，其快速的执行速度将有助加快测试、修复更多IC并提升良率。此外，这两项功能皆可依照需求加以调整，譬如增加CPU以提高运算速度。

T5833采用爱德万测试的AS模组化记忆体测试平台，无论客户需要的是工程用机台或是大型量产系统，皆可将平台调整成符合需求的设定。T5833的延展性可因应未来新世代元件测试，带动产能提升，创造更高投资价值。

爱德万测试记忆体测试事业执行副总裁山田弘益表示：“T5833既具有业界首屈一指的效能，又兼顾了客户的低测试成本考量，这两大优势将有助于客户获致最大投资效益！”

T5833测试机继T5503HS系统之后成为爱德万记忆体测试系统的系列产品。爱德万记忆体测试系统已在全球安装超过8,000套，显见爱德万测试在记忆体元件测试市场的领导地位。

关于爱德万测试

爱德万测试是世界知名的半导体自动测试设备领导供应商，专为电子设备与系统设计与制造厂商提供首屈一指量测设备。现今全球最先进半导体生产线均采用该公司领先业界的系统与产品。此外，该公司亦深耕奈米和太赫兹 (terahertz) 技术的发展，积极开发新兴市场，近日更推出攸关光罩制造的多视角量测扫描式电子显微镜，以及突破现有技术限制的3D成像暨分析工具。该公司在1954年于东京成立，并在1982年于美国成立第一家子公司，迄今子公司遍布全球。公司网站www.advantest.com。