爱德万测试推出Link Scale通道板卡,为V93000平台增添基于软件的功能测试和HSIO SCAN测试功能
Link Scale™系列板卡将支持基于软件的功能测试,支持在板块上运行各种操作系统及应用软件。同时,通过USB或者PCIe高速接口启动芯片的firmware执行测试,弥补传统在ATE上各个IP
当今许多复杂的SoC 芯片、微处理器、图形处理器和 AI 加速器都集成了高速数字接口,例如 USB 或 PCIe。对此Link Scale 板卡提供了两个版本,Link Scale USB和Link Scale PCIe。用户能使用这些接口来非常快速地传输功能测试和扫描测试生成的测试数据,同时提高测试覆盖率和测试效率。
此外,拥有同其他 V93000 板卡一致的外形,让其能够完全集成到现有设备的测试头中。
Link Scale USB Link Scale PCIe
Link Scale 板卡通过标准的高速串行接口与被测设备进行通信,用户能在正常工作模式下,使用与目标应用程序中类似的固件和驱动程序来测试芯片。
Link Scale带来的更高的测试数据通行能力可以有效控制测试时间,更广的测试覆盖率有助于满足以最新工艺节点制造的复杂芯片的严格质量要求。同时,Link Scale还支持使用最先进的调试工具(例如 Lauterbach TRACE32®),加速了芯片点亮和进入量产的过程。
利用主流EDA工具支持的可移植激励标准(PPS), Link Scale板卡可以重用设计验证的功能测试,极大的提高测试质量,缩短芯片上市时间。新板卡还为在卡上运行的主软件提供了可定制的环境,允许在 V93000 系统上使用完整的软件堆栈进行实际应用测试。
这有助于在不同环境之间(比如晶圆测试、FT测试和系统级测试等之间)交换测试数据。因此,Link Scale 测试解决方案可以帮助用户针对 2.5D 或 3D 多芯片封装技术的芯片建立KGD(known-good-die) 策略。
“本次与Advantest的合作,让客户可以使用 Cadence Perspec System Verifier 在大规模量产中重复使用来自设计验证软件驱动的功能压力测试。与此同时客户可以通过使用广泛建立的工具链来自动生成和调试具有高覆盖和高效率的测试。”
Yogesh Goel
Cadence
System & Verification Group 业务和客户开发副总裁
“通过使用高速链接、支持自定义操作系统和驱动程序、集成本地处理能力,结合Advantest 的 EDA 合作伙伴的支持,我们的 Link Scale 板卡提供了传统 ATE 无法比拟的测试和调试功能。该产品系列将我们 V93000 平台的应用范围扩展到了新领域,大大丰富了 ATE 的数字测试的可能性。”
Juergen Serrer
爱德万测试集团
V93000业务部执行官
新的板卡可以加载到任何 V93000 Smart Scale 或 V93000 EXA Scale 系统中。部分产品并已交付给试点客户,用于在芯片大规模量产之前进行测试程序开发。它们将于 2022 年第一季度广泛上市。
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