3月21日,普冉半导体(上海)股份有限公司(以下简称“普冉股份”)对外披露新产品及技术研发进展。
公告称,存储器芯片方向全面展开:公司采用电荷俘获的SONOS工艺结构40nm工艺节点下的NOR Flash全系列产品研发完成并成为量产交付主力,晶圆良率达到95%以上,实现了对公司原有55nm工艺节点下的NOR Flash产品的升级替代,产品竞争力及晶圆产出率有效提升。;公司采用浮栅ETOX工艺结构NOR Flash中大容量PY系列产品首颗开始量产出货,应用于可穿戴和安防等市场;车载EEPROM产品完成了AEC-Q100标准的全面考核,首先在车身摄像头和车载中控应用上实现了海外客户的批量交付;超大容量EEPROM系列开发完成,F系列产品支持SPI/I2C接口和最大4Mb容量,其中2Mb产品批量应用于高速宽带通信和数据中心领域。;新一代128Kb至512Kb摄像头模组EEPROM产品应用于海外手机头部厂商旗舰机型,已实现量产。
模拟产品方向上,内置非易失存储器的PE系列音圈马达驱动芯片产品进入大批量供货。支持下一代主控平台的1.2V PD系列音圈马达驱动芯片产品完成开发、流片和测试,性能指标均符合规范要求,产品进入客户送样阶段。微控制器方向上,首颗32位微控制器芯片产品功能和性能测试通过,进入客户送样阶段。
针对“新产品及技术研发对公司的影响”,普冉股份表示,在40mn以下新一代工艺和浮栅下一代技术的创新技术储备,使公司在存储器芯片及延伸领域均具备持续竞争力。(校对/小如)