微敏科技“一种半导体发光芯片组件的光功率测试筛选装置”专利公布

集微网消息，天眼查显示，重庆微敏科技有限公司“一种半导体发光芯片组件的光功率测试筛选装置”专利公布，申请公布日为6月6日，申请公布号为CN116222977A。

图源：天眼查

专利摘要显示，本发明公开了一种半导体发光芯片组件的光功率测试筛选装置，涉及半导体光源领域，本发明的技术方案包括底板、半导体发光芯片组件、温控模块、积分球探测器和探针组件；所述底板上设置温控模块、积分球探测器和探针组件，所述温控模块上设置所述半导体发光芯片组件，所述积分球探测器和探针组件位于所述半导体发光芯片组件的一侧。将半导体发光芯片组件安装在测试装置上，调节探针位置，使探针与半导体发光芯片组件正负极焊盘接触良好；使测试装置控温在恒定温度（例如25℃），给半导体发光芯片组件加脉冲电流，同时测试出光功率。

据悉，采用脉冲加电方法，可使发光芯片驱动电流热效应较小，测试出的光功率更准确，重复性更好。（校对/姜羽桐）