天眼查显示，无锡盛景微电子股份有限公司“基于污染源扩散理论的低可靠性芯片识别方法及装置”专利公布，申请公布日为2024年10月11日，申请公布号为CN118761427A。
本发明提供了基于污染源扩散理论的低可靠性芯片识别方法及装置。其中，包括：获取待识别芯片以及污染芯片；根据待识别芯片与污染芯片的位置信息以及预设污染范围，从模型数据库中查找污染芯片对应的权重系数和污染系数；模型数据库包括：第一数据库和第二数据库，第一数据库用于存储相关位置信息，第二数据库用于存储相关权重系数和相关污染系数；利用权重系数和污染系数计算污染程度值；将污染程度值代入转换函数，获取待识别芯片的早期失效概率；基于预设筛选阈值和早期失效概率对待识别芯片进行可靠性判断，获取识别结果；第二数据库和转换函数均基于优化遗传算法优化训练得到。提高了低可靠性芯片识别的稳定性和准确性，降低了良品损失。
