智芯微“抗电磁环境干扰高可靠LDMOS静电泄放器件、制备方法及芯片”专利获授权

来源:爱集微 #智芯微#
1898

天眼查显示,北京智芯微电子科技有限公司近日取得一项名为“抗电磁环境干扰高可靠LDMOS静电泄放器件、制备方法及芯片”的专利,授权公告号为CN118073425B,授权公告日为2024年12月13日,申请日为2024年4月24日。

本申请公开了一种抗电磁环境干扰高可靠LDMOS静电泄放器件、制备方法及芯片,属于半导体技术领域。抗电磁环境干扰高可靠LDMOS静电泄放器件包括:基底;体区,体区内靠近第一侧设有源区和至少一个第一掺杂区,第一掺杂区的掺杂类型和源区的掺杂类型相反;漂移区,漂移区靠近第一侧设有漏区和至少一个第二掺杂区,第二掺杂区的掺杂类型和漏区的掺杂类型相反;栅功能层;第一极性结构,分别与源区、第一掺杂区和栅功能层连接;第二极性结构,分别与漏区和第二掺杂区连接。体区内的第一掺杂区和漂移区内第二掺杂区分别在LDMOS器件内部形成PN结,实现在LDMOS内集成SCR结构,从而调整电流流出路径,提高了LDMOS器件的单位面积静电泄放能力。

责编: 赵碧莹
来源:爱集微 #智芯微#
THE END

*此内容为集微网原创,著作权归集微网所有,爱集微,爱原创

关闭
加载

PDF 加载中...