（文/姜翠）6月9日，灿芯半导体发文称，日前公司正式推出高精度16位逐次逼近型（16bit SAR）ADC。该IP首个测试芯片基于中芯国际55nm工艺流片成功，现已完成EVB测试，可提供给客户进行评估。
文章显示，该IP采样率为1MHz, ENOB（有效位）可达14bit，通常情况下其DNL（微分线性误差）介于-0.4LSB至0.47LSB之间，INL（积分线性误差）居于-1.8LSB至2.2LSB之间，其典型功耗是4.25mA，性能指标处于国内领先水平。
“16bit高精度SAR ADC的发布，对灿芯半导体而言，是技术层面上的又一次突破，” 灿芯半导体工程副总裁刘亚东表示，“另外，灿芯半导体还不断拓展创新，将这个技术实施到SMIC 40nm工艺，同时不断迭代优化，减少面积功耗，提升采样速率，力争满足客户的多层次需求。”
据了解，灿芯半导体是一家提供一站式定制芯片及IP的高新技术企业，为客户提供从芯片架构设计到芯片成品的一站式服务，致力于为客户提供高价值、差异化的解决方案。
目前，灿芯半导体深耕高精度12/14/16 bit SAR ADC及高速(>150M) PIPELINE ADC，为工业级高精度应用提供了更丰富的选择。基于SAR ADC技术的定制芯片累计出货已近3000万颗，可广泛应用于工业控制、能源及AIoT等领域。
（校对/Andy）
