1.果纳半导体“晶圆缺陷检测设备”专利获授权
2.VIVO“业务冲突处理方法、定位配置信息处理方法、装置及设备”专利公布
3.鑫晟光电“一种液晶显示装置的驱动方法、液晶显示装置和测试系统”专利获授权
4.奕斯伟“二次倒角方法、二次倒角系统、计算设备及介质”专利公布
1.果纳半导体“晶圆缺陷检测设备”专利获授权
天眼查显示，上海果纳半导体技术有限公司近日取得一项名为“晶圆缺陷检测设备”的专利，授权公告号为CN112466787B，授权公告日为2025年3月14日，申请日为2020年11月25日。
一种晶圆缺陷检测设备，包括：晶圆载台，用于固定待检测晶圆；浸润液体提供模块，用于提供浸润液体，以将晶圆载台上的待检测晶圆浸没在浸润液体中，所述浸润液体的折射率大于空气的折射率；图像获取模块，所述图像获取模块包括摄像头阵列，所述图像获取模块通过摄像头阵列一次拍摄获得待检测晶圆整个表面对应的检测图像，且进行拍摄时所述摄像头阵列至少有部分浸没在浸润液体中；缺陷判断模块，所述缺陷判断模块根据所述图像获取模块获得的检测图像，判断所述待检测晶圆的表面是否存在缺陷。本发明的晶圆缺陷检测设备提高了缺陷检测精度。
2.VIVO“业务冲突处理方法、定位配置信息处理方法、装置及设备”专利公布
天眼查显示，维沃移动通信有限公司近日“业务冲突处理方法、定位配置信息处理方法、装置及设备”专利公布，申请公布日为2025年3月14日，申请公布号为CN119629567A。
【摘要】本申请公开了一种业务冲突处理方法、定位配置信息处理方法、装置及设备，属于通信技术领域，本申请实施例的业务冲突处理方法包括：终端在非连接态执行定位业务并接收数据业务；在终端存在因数据业务进入连接态的需求的情况下，终端向第一网络侧设备发送第一消息，其中，第一消息用于请求进入连接态或保持非连接态；终端接收第一网络侧设备发送的第一消息的响应消息，并根据响应消息进入连接态或保持非连接态。
3.鑫晟光电“一种液晶显示装置的驱动方法、液晶显示装置和测试系统”专利获授权
天眼查显示，合肥鑫晟光电科技有限公司近日取得一项名为“一种液晶显示装置的驱动方法、液晶显示装置和测试系统”的专利，授权公告号为CN116189626B，授权公告日为2025年3月14日，申请日为2021年11月26日。
本发明公开了一种液晶显示装置的驱动方法、液晶显示装置、测试系统、计算机设备和存储介质，其中一实施例的驱动方法包括：根据所述反转前一帧和反转后一帧中的至少一帧的灰阶获取反转灰阶、并根据反转灰阶从过渡平衡表中获取过渡灰阶，所述过渡平衡表包括各灰阶、以及与各灰阶对应的过渡灰阶，过渡灰阶小于等于对应的灰阶；在所述反转前一帧和反转后一帧之间插入灰阶值为过渡灰阶的过渡帧，过渡帧的极性与述反转前一帧的极性相同，使得从所述反转前一帧到反转后一帧的亮度变化小于等于预设的亮度阈值。本发明提供的驱动方法通过在反转前一帧和反转后一帧之间插入过渡帧，能够解决现有技术中因数据信号极性反转导致的显示不良，具有实际应用价值。
4.奕斯伟“二次倒角方法、二次倒角系统、计算设备及介质”专利公布
天眼查显示，西安奕斯伟材料科技股份有限公司近日“二次倒角方法、二次倒角系统、计算设备及介质”专利公布，申请公布日为2025年3月14日，申请公布号为CN119610427A。
本公开涉及二次倒角方法、二次倒角系统、计算设备及介质。在一方面中，提供了一种二次倒角方法，其包括：对待进行二次倒角的硅片的厚度进行测量，以判断测量值是否为期望值，其中，期望值根据用于二次倒角的磨轮的修正槽的槽型确定；在测量值不为期望值时，对硅片的厚度进行调整，以使厚度达到期望值；以及利用修正槽对调整过的硅片进行二次倒角。由此，能够使厚度波动的来料硅片的边缘经过二次倒角加工后达到期望形状。
