爱德万测试将于东南亚 SEMICON 展示 ATE 解决方案

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来源: 新电子   发布者:新电子
热度28票   时间:2017年4月20日 04:45
爱德万测试(Advantest)将在位于东南亚国际半导体展(SEMICON Southeast Asia)的摊位,展示最新半导体 测试解决方案。 东南亚国际半导体展将于 2017 年 4 月 25 ~27 日假马来西亚槟城体育馆(SPICE Arena)盛 大展开,爱德万测试为本次大会的银级赞助商。

爱德万测试本次参展以量测互联网世界及其事物(Measure the Connected World and Everything in It)为主 题,于 B139 摊位展示 EVA100 量测系统,该系统无论是针对设计,还是产品的量测作业,都采用相同 的测试序列,客户得以在整个作业过程中建立标准化的量测环境,大幅缩短产品上市的时程。

EVA100 系统采用诉诸于直觉的图形化辅助用户操作接口(GUI),故不需要复杂的程序语言。 爱德万测 试将在摊位内外举行多场会议,和与会贵宾讨论 EVA100 与该公司多元的 ATE 解决方案产品组合。

此外,爱德万测试资深研发暨应用工程师 Shang Yang 博士,将于 4 月 26 日在 IC 失效分析论坛(IC Failure Analysis Forum),发表运用超高分辨率 TDR 系统之高密度 LSI 失效分析技术(High-Density LSI Failure Analysis Technology Using an Ultra-High Resolution TDR System)论文。

不仅如此,爱德万测试职员应用工程师 Tuttipattu Ramaswamy Sujanandan,也将于 4 月 27 日在产品与 系统测试论坛(Product & System Test Forum)发表物联网--创造经济合算的多测试埠 RF 解决方案(IoTCreating a Cost Effective High MultiSite RF Solution)论文。


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