据天眼查显示，上海矽睿科技股份有限公司近日取得一项名为“三轴磁传感器的测试方法及系统”的专利，授权公告号为CN112596015B，授权公告日为2024年9月17日，申请日为2020年12月28日。
本发明揭示了一种三轴磁传感器的测试方法及系统，所述测试方法包括：将被测三轴磁传感器置入三轴亥姆霍兹线圈中；单独施加X轴、Y轴、Z轴恒定的磁场，并记录在每个轴磁场下X轴、Y轴、Z轴三个轴的输出；通过迭代计算得到设定参数的值；对计算结果进行判断，达到或小于设定的精度时，停止计算，否则继续迭代；利用计算的结果，对三轴传感器进行角度补偿，输出不同磁场下的扫描曲线，得到测试结果。本发明提出的三轴磁传感器的测试方法及系统，可获取芯片的自身灵敏度以及跨轴灵敏度，提高三轴磁传感器的检测精度及检测灵敏度。
