芯链协同 智创未来 | 广立微亮相2026杭州长芯展

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5月14-16日,2026杭州国际半导体与集成电路产业创新展览会(杭州长芯展)在杭州大会展中心圆满举行,广立微受邀参加本次展会,以覆盖芯片设计、制造、测试、良率提升的 "硅全生命周期解决方案"为核心,聚焦全流程EDA工具、大数据分析平台与晶圆级老化测试设备等主力产品,吸引了众多行业专家与参会嘉宾驻足交流。

展会期间,广立微董事长郑勇军博士在“智芯开源—EDA与RISC-V创新生态论坛”中带来《高端芯片的良率挑战以及给国产EDA带来的机遇》主题报告。郑博士指出,AI正带来高端芯片需求的大幅增长,但高端芯片国产化仍面临诸多挑战。广立微系列产品在工艺开发、产品导入、量产和全周期监控等环节提供了高效解决方案,郑博士也希望与全行业加速协同,共同突破挑战。

同时,凭借在EDA与IP领域的持续创新与卓越表现,广立微在本次展会中荣获组委会授予的“EDA与IP创新应用奖”。这一荣誉不仅是对公司技术实力与产业贡献的高度认可,也激励着广立微继续深耕良率提升技术,助力国产芯片产业高质量发展。

全流程EDA

贯穿芯片设计与制造全流程

在EDA软件领域,广立微始终坚持以良率提升为主线,贯穿芯片设计与制造的全流程。在此次展会中,广立微展示了在良率提升EDA、可测试性设计DFT及可制造性设计DFM领域的最新成果。

  •  测试芯片EDA

广立微测试芯片EDA系列,聚焦先进工艺下工艺监控与良率诊断的核心需求,通过SmtCell、TCMagic、ATCompiler 等工具,实现从单元创建到全芯片验证的自动化流程,大幅降低测试芯片设计周期与成本。其支持的大规模可寻址测试芯片方案,可实现对晶圆级电性参数的高效监控,帮助企业快速识别工艺偏差、定位良率瓶颈,为先进工艺量产筑牢数据基础。

  • 可测试性设计DFT

广立微可测试性设计DFT,以高效测试、精准诊断为核心,依托 QuanTest 系列工具,实现芯片测试自动化与良率智能分析,高效定位缺陷,加速先进工艺芯片量产与良率提升。

良率感知DFT诊断分析平台QuanTest YAD

作为广立微可测试性设计DFT的核心产品,QuanTest-YAD深度融合“DFT 诊断技术 + AI 智能分析”双核能力,打破芯片设计、制造、测试环节的数据壁垒,实现全流程数据实时关联与深度分析。 平台依托 AI 算法与大数据驱动的智能诊断引擎,可高效定位芯片失效根因,显著提升故障溯源效率与定位精度,助力企业快速实现良率爬坡与量产优化,为先进制程芯片的可测性设计与良率管理提供关键支撑。

  • 可制造性设计DFM

广立微将国际领先的制造端良率提升经验延伸至设计环节,打造覆盖成熟至先进工艺的全流程DFM解决方案。通过多维度制造风险检查与预测,以及工具间的无缝协同,实现高效 DFM 良率签核,精准定位故障根因,缩短产品上市周期,为芯片量产良率筑牢防线。

AI智能中枢

从数据到决策的智能支撑

AI 技术正成为破解半导体行业复杂度提升、效率瓶颈的关键路径,广立微以 “AI 智能 + LLM大模型” 为技术路径,完成 AI 技术与核心产品的深度融合,推出多款面向全流程的智能分析工具。

  • SemiClaw

SemiClaw是广立微推出的企业级数字员工平台,深度集成半导体业务。它不是一个问答工具,而是一位能够理解任务、自主执行、主动汇报的Al数字员工。工程师或业务人员只需用自然语言下达指令,SemiClaw即可自动完成数据调取、分析建模、图表生成、报告输出的完整链路。

  • SemiMind

广立微 SemiMind 半导体大模型平台,深度融合知识库与智能体大模型技术,接入 DeepSeek-R1 等先进大模型能力,打造了 “知识沉淀 + 智能体协作” 的半导体 AI 研发基座。区别于通用大语言模型,SemiMind 不仅支持企业级私有知识库构建,更依托对半导体产业的深度认知,研发落地多类专业智能体,实现从良率分析到工艺优化的全流程 AI 赋能,为先进工艺节点下的芯片量产提供智能化支撑。

测试设备

高精度与高可靠性的双重保障

“软硬协同”是广立微的一大核心优势。本次展会中,广立微展示了自主研发的晶圆级电性参数测试设备及老化测试系统,其中晶圆级老化测试系统专为碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)等功率器件打造,通过高温栅极偏压(HTGB)与高温反向偏压(HTRB)测试,高效筛选早期失效芯片。

光子集成电路自动化

面向多场景的硅光芯片创新工具链

本次展会上,广立微携手全球光子集成电路设计自动化(PDA)领军企业 LUCEDA,同步展出其面向多场景应用的硅光设计平台。LUCEDA PHOTONICS 以全流程一体化、Python代码驱动的技术架构为核心,依托 IPKISS 单元化定义与参数化方法,简化光子芯片设计流程,主打 “首次即成功(First-time-right)” 的光子集成芯片(PIC)设计体验,同时构建了完善的 PDK/ADK/TDK 生态,支持从设计到仿真的全链路开发。其方案可广泛应用于 LIDAR、量子计算、AI、云计算等多个领域,助力客户快速实现可制造的光子芯片设计。广立微通过把传统芯片良率提升经验延伸至硅光领域,逐步构建光电协同设计平台,为 AI 算力时代的光电融合技术发展筑牢底座。

未来,广立微将持续深耕半导体全产业链技术创新,以硅全生命周期解决方案为核心,不断强化 EDA 工具、大数据分析平台、晶圆测试设备与硅光 PDA 的全栈能力,面向 AI 算力与光电融合的产业新趋势,广立微将以技术自立自强为目标,携手行业生态伙伴,共筑国产半导体产业底座,助力高端芯片自主可控与光电融合创新加速落地,为全球半导体产业发展注入持续动力。

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责编: 爱集微
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