公开课58期 | 爱德万：后摩尔时代IC测试的挑战与创新

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半个世纪以来，集成电路行业都遵循着摩尔定律发展，即当价格不变时，集成电路上可容纳的元器件的数目，约每隔18-24个月便会增加一倍，性能也将提升一倍。业界也在追求在更小的芯片上集成更多的晶体管以实现性能的提升，然而物理学总是难以违逆的，由于芯片制程不断微缩，摩尔定律已逼近极限，后摩尔时代也随之而来。

在后摩尔时代，无人驾驶、边缘智能、智慧城市，万物互联，元宇宙等概念和应用的不断涌现，推动芯片技术的高速发展，要求更高的集成度、更复杂的电路设计。无论是单颗芯片的复杂程度还是先进封装技术实现的异质集成，对芯片在前道至后道测试上提出了更高的测试挑战。IC测试厂商要如何创新来满足这纷繁复杂的多元应用时代所带来的测试需求的复杂化？

第五十八期“集微公开课”将于8月5日（周五）上午10：00直播，邀请到爱德万测试（中国）业务发展总监葛樑带来《后摩尔时代IC测试的挑战与创新》为主题的演讲，将从应用场景及芯片的构成出发，介绍爱德万测试最新的测试解决方案，希望通过此来给大家在后摩尔时代的芯片测试提供一些新的思考。

“集微公开课”栏目联合行业头部企业，通过线上直播的方式分享精彩主题内容，同时设立直播间文字提问互动环节。集微网希望将“集微公开课”栏目打造成中国ICT产业最专业、优质的线上培训课程，深化产教融合，助力中国ICT产业发展。

第五十八期课程介绍

主题：后摩尔时代IC测试的挑战与创新

课程亮点

从应用场景及芯片的构成出发，探讨后摩尔时代IC测试的创新

1.新一代的扫描测试技术，解决扫描向量暴涨和测试访问能力限制 

2.在ATE设备上运行系统级测试（SLT）以满足KGD和车载测试需求

3.测试机基础架构创新，进一步帮助减低测试成本加速工程开发

讲师介绍

葛樑，担任爱德万测试（中国）业务发展总监，负责业务发展和专家中心部门，主管SOC测试领域新技术/新业务的方案实施和市场拓展。其在半导体测试行业有超过15年工作经验，长期从事芯片ATE测试相关的研发、应用和市场工作。

关于爱德万

爱德万测试成立于1954年，是目前全球领先的半导体自动化测试设备 (ATE) 及服务的提供商。其设备应用与包括5G通信、物联网(IoT)、自动驾驶汽车、高性能计算(HPC)、人工智能(AI)等许多应用领域的芯片设计和生产环节中。

六十多年以来，爱德万测试致力于研发、不断追求创新，至今成为了全球半导体自动化测试与解决方案的领导者。

其产品和服务还覆盖，为晶圆分类和最终测试开发先进的测试接口解决方案；生产光掩模制造所必需的扫描电子显微镜；并提供系统级测试解决方案和其他测试相关附件。

爱德万测试中国总部位于上海张江，在中国设立了全球应用开发中心、全球研发中心、全球软件方案中心等，不仅为中国半导体行业客户提供现地化的支持服务，也为全球的客户提供专业化的服务和解决方案。

（校对/李梅）