华虹宏力“一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法”专利获授权

集微网消息，天眼查显示，上海华虹宏力半导体制造有限公司近日取得一项名为“一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法”的专利，授权公告号为CN112820340B，授权公告日为2024年4月16日，申请日为2021年2月5日。

本发明提供的一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法，包括以下步骤：设定存储器的电参数的修调档位的筛选手段；执行晶圆测试，以得到实测的电参数的实测修调档位；将所述电参数的实测修调档位记录到log文档中；以及对所述log文档中的记录的电参数的实测修调档位进行分析，并绘制测试晶圆图谱。本发明通过log文档记录的每个晶圆的电参数的实测修调档位，不仅可以将修调档位异常的芯片剔除，提供了可靠性风险预警机制，还有效提高了芯片的可靠性指标。