华虹宏力“一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法”专利获授权

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天眼查显示,上海华虹宏力半导体制造有限公司近日取得一项名为“一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法”的专利,授权公告号为CN112820340B,授权公告日为2024年4月16日,申请日为2021年2月5日。


本发明提供的一种嵌入式存储器的参数测试的分类筛选方法,包括以下步骤:设定存储器的电参数的修调档位的筛选手段;执行晶圆测试,以得到实测的电参数的实测修调档位;将所述电参数的实测修调档位记录到log文档中;以及对所述log文档中的记录的电参数的实测修调档位进行分析,并绘制测试晶圆图谱。本发明通过log文档记录的每个晶圆的电参数的实测修调档位,不仅可以将修调档位异常的芯片剔除,提供了可靠性风险预警机制,还有效提高了芯片的可靠性指标。


责编: 赵碧莹
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