胜科纳米“一种芯片缺陷区域确定方法、装置、设备及存储介质”专利公布

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天眼查显示,胜科纳米(苏州)股份有限公司“一种芯片缺陷区域确定方法、装置、设备及存储介质”专利公布,申请公布日为2024年10月11日,申请公布号为CN118762014A。

本发明公开了一种芯片缺陷区域确定方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取目标芯片对应的原始芯片图像;将原始芯片图像进行排列方向检测,确定图像切割方向,并将原始芯片图像进行分割处理,获得第一分割图像;基于图像切割方向的相互垂直方向,将第一分割图像进行像素值统计处理,获得分割投影图像;根据分割投影图像,确定估计周期长度,并基于估计周期长度,将第一分割图像进行裁剪处理,获得第二分割图像。将当前第二分割图像与其他第二分割图像进行对比,确定存在缺陷的目标第二分割图像,进而确定目标芯片的缺陷位置,以准确确定芯片缺陷区域。该方法无需人工参与,降低人工成本,同时可以提升缺陷区域的检测效率。


 


责编: 赵碧莹
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