随着5G时代的到来，5G在工业、农业、交通、医疗、文化、智慧城市等领域的应用，催生出巨大的新市场、新业态，为集成电路产业发展提供了广阔的创新发展空间。在成功举办两届全球IC企业家大会暨中国国际半导体博览会（ICChina）的基础上，在工业和信息化部、上海市人民政府指导下，中国半导体行业协会、中国电子信息产业发展研究院、上海市经济和信息化委员会联合主办第三届全球IC企业家大会暨第十八届中国国际半导体博览会（ICChina2020）。

本次大会暨博览会的主题是“开放发展合作共赢—5G时代芯动能”，旨在进一步加强5G时代全球集成电路产业的交流与合作，探讨全球集成电路产业的创新与发展，展示全球集成电路产业的技术与成果，推动全球集成电路产业可持续、高质量发展。本次大会暨博览会同期还将举办中国半导体行业协会30周年系列活动。

锁定NI展台，了解最新半导体测试趋势

时间：2020年10月14-16日

地点：中国•上海新国际博览中心E2馆

NI展位号：101

NI展台部分展品剧透↓↓↓

① 混合信号芯片现代化验证平台

混合信号现代化芯片Modern Lab理念指的是基于标准化、高效的芯片实验室运营流程理念。从芯片First Silicon之后的芯片Bring up，Bench特性分析，NPI需要经历不同阶段，现代化实验室以高效、标准化的运营方式帮助企业将这一系列流程进行规范，NI帮助企业从早期设计阶段就定义标准和高效的工具链，以运营效率为第一目标，加速上市时间。

② 晶圆可靠性WLR测试方案

由于新材料和新技术的推动，以及器件复杂性的提升所引入新的器件失效机制，厂商需要进行更多晶圆级可靠性测试。传统的可靠性解决方案难以快速高效地获得测试数据，由于可靠性测试应力通常相对固定（如TDDB，HCI， BTI / NBTI等），因此可通过提高测试并行性来更高效地获取可靠性测试数据。NI 晶圆级可靠性（WLR）解决方案以行业领先的通道密度为晶圆可靠性提供了更高测试并行度和测量速度。该解决方案由NI WLR应用软件，高性能fA级SMU组成，并具有灵活的连接方式。紧凑高并行性的WLR测试解决方案可有效提高数据获取速度并优化占地面积。

③ NI STS (Semiconductor Test System) 量产测试平台

NI 的半导体测试系统(Semiconductor Test System, 简称STS) 提供了可快速部署到生产的测试系统，适用于半导体生产测试环境（实验室验证、晶圆级测试、FT测试等）。此外， PXI平台开放式与模块化的设计，使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器资源，进一步提升半导体测试效率，降低测试成本。

欢迎来NI展台了解最新的半导体测试技术、最新的自动化测试测量仪器，我们的工程师小哥哥小姐姐在展台等您哦。

想了解展会更多信息，可以登录ICChina 官网哦（http://www.ic-china.com.cn/Index.asp）